XAFS(全称x射线吸收精细结构)，即x射线吸收精细结构光谱，是描述局部结构的有力工具之一。在这种技术中，我们调整x射线能量以匹配所研究元素的内层电子层，然后用它来探测样品，然后监测吸收的x射线数量作为其能量的函数。在足够的精度下，由于局部环境对目标元素的基本吸收概率的影响，光谱表现出很小的振荡。从光谱中，我们还可以得到吸收原子与邻近原子的距离、原子的数目和类型以及吸收元素的氧化态，这些都是确定局部结构的参数。通过选择不同能量的x射线，我们可以获得样品中所有元素的信息。